CTH系列 可編程恒溫恒濕箱 設(shè)備簡述： 該系列產(chǎn)品適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、車輛、金屬、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在高低溫或濕熱環(huán)境下、檢驗其各性能項指標(biāo).及產(chǎn)品質(zhì)量管理使用。 滿足標(biāo)準： 1. GB/T2423.22－2002 試驗N 溫度變化試驗方法 2. GB/T2423.3-93(IEC68-2-3) 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法 3. GB/T2423.4-93(IEC68-2-30) 試驗Db:交變濕熱試驗方法 4. GJB150.3－86 高溫試驗方法 5 GJB150.4－86 低溫試驗方法 6. GJB150.9-93 濕熱試驗方法 7. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫 8. GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫 9. G/BT 2423.4-2008/IEC6008-2-30:2005交變濕熱方法 10. GB/T5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備 11. GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件 12．GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件 HTC系列高溫試驗箱（烘箱） 設(shè)備簡述： 該系列高溫試驗箱是各種老化實驗中，常用設(shè)備之一。適用于電子儀器儀表、材料、電工、車輛、金屬、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在溫度環(huán)境下、檢驗其各項性能指標(biāo)及質(zhì)量管理之用。 滿足標(biāo)準： GBT 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件 GB/T 2423.2-2001 試驗B：高溫試驗方法 GBT 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法

CTH系列 可編程恒溫恒濕箱 標(biāo)稱內(nèi)容積 150 L 溫度范圍： -70～150℃ 濕度范圍： 20～98%RH 升降溫速率 +25℃→+150℃≤45 min +25℃→-70℃ ≤80 min 溫度分辨率 0.01℃ 溫度偏差 ±1.5℃ 溫度均勻度 ≤2℃ 溫度波動度 ±0.5℃ 濕度分辨率 0.1%RH 濕度偏差 ±2%RH 濕度均勻度 ≤3%RH 濕度波動度 ± 2%RH HTC系列高溫試驗箱（烘箱） 內(nèi)箱尺寸 40L——1000L 溫度范圍 RT+10℃→200℃ 溫度偏差 ±2℃ 溫度均勻度 ≤2.5%℃ 溫度波動度 ±0.5℃ 溫度分辨率 ±0.1℃ 升溫時間 RT→200℃全程平均≧3.5℃/min 計時器 可設(shè)秒、分、10分、小時、10小時可切換，最大計時9999 X 10小時 箱體結(jié)構(gòu) 外壁材料：1.2mm厚冷軋鋼板 內(nèi)壁材料：1.2mm厚不銹鋼 保溫材料：玻璃纖維棉 保溫材料厚度：100 mm